離子污染測試儀適用于檢測電子元器件/電路板/電路板組
介紹新的和改進的，6西格瑪認證的CM+系列-業界優越的，獲獎的和世界上**個聯合玫瑰和PICT離子污染測試儀。
雖然通常被稱為“清潔度測試”，但污染計實際上是一種用來測量離子污染的工具。40多年來，這種測試方法一直被認為是制造電子電路板、元件和組件的重要質量保證和過程控制工具。
從歷史上看,國際標準IPC-J-STD001表示,議會被清洗的值< 1.5μg / cm2氯化鈉等價。然而，新設計與Gen3系統引入的新過程控制度量相關:過程離子污染測試(PICT)。CM+系列根據所有現有的測試方法(通常稱為ROSE測試)和新的PICT測試來測量離子污染的量。
來自Gen3系統的CM+系列有5種不同的型號和5種不同的油箱尺寸——在選擇測試系統時，為被測電路使用盡可能小的油箱尺寸是很重要的。
所有的量程都使用了純金測試單元、彈道放大器和強有力的泵送系統，以確保即使在非常低的電導率值下也能獲得非常高的測量精度。基于PC的軟件用于生成圖形化的測試數據，通過/失敗分析，以及根據現行標準使用測試方法自動打印出硬拷貝。
在與羅伯特·博世的合作研究中，CM+范圍已被證明符合6西格瑪標準，在全球不同的生產地點使用驗證程序。作為一個過程工具，CM+系統可以用于優化制造技術和材料，并在全球不同的生產現場進行制造控制，具有很高的確定性。
新的CM+范圍包括以下內容:
CM11+、CM22+、CM33+、CM33L+、CM60+、CMBBT+。
關鍵特性
六西格瑪(6σ)驗證作為過程控制工具
3分鐘內完成測試周期
高的流體循環速率，確?？焖?*PCBA中的離子污染物，同時始終提供平穩、無氣泡的循環
獨特的曲線擬合分析算法(擬合的優點)預測較長試驗的結果
獨特的純金測量單元，彈道放大器，測試精度<0.005mS/cm
**測量，即使測試溶液占被測表面面積的比例很大
二氧化碳補償功能，消除大氣污染對污染結果的任何影響
自動溫度補償
通常在6分鐘內完全恢復
全新系列PCB/元件處理架，集成排水系統
措施符合所有國際和MIL規格的新老
所有CM+系統的測量重復性和可靠性都達到了2%
CM+系列系統具有極高的精度、靈敏度、線性度、精密度和重復性
